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西安ENJ2005-A 半导体分立器件测试系统

西安ENJ2005-A 半导体分立器件测试系统

系统概述:

    设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补

偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。

    面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。


    系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。      

    基础配置:

技术参数

ENJ2005-A型

主极电压

10mV-2000V

主极电流

100nA-50A

扩展电流

100A、200A、400A、500A

电压分辨率

1mV

电流分辨率

100nA

测试精度

0.5%+2LSB

测试速度

0.5mS/参数

测试参数:

漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS、
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
                IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
关断参数:VGSOFF     
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-

系统特征:

● 测试范围广(19大类,27分类)
●升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
● 采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定的300uS
● 被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏
● 真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际值偏差很大)
● 系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障
● 二极管极性自动判别功能,无需人工操作

     易恩电气,致力于全球电力电子测试方案提供商,主要提供电力电子相关的大功率分立器件测试仪IGBT测试仪变流器IGBT测试仪牵引系统IGBT测试,半导体参数图示仪IGBT动态参数测试仪MOS管动态参数测试仪、IPM测试仪、雪崩耐量测试仪、浪涌测试仪晶闸管测试仪、元器件测试仪、晶体管图示仪等功率半导体测试设备。

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